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一、假設(shè)提出 1.原假設(shè)（H0）通常是我們想要推翻的假設(shè)，備擇假設(shè)（H1）是我們希望得到支持的假設(shè)。在本題中，問題是判斷電子元件的使用壽命是否有明顯提高，所以原假設(shè)設(shè)為平均使用壽命不大于 100 小時（H0:μ≤100），備擇假設(shè)為平均使用壽命大于 100 小時（H1:μ>100）。 二、檢驗統(tǒng)計量及分布 1.已知總體為正態(tài)分布，且樣本量較大（n = 100），根據(jù)中心極限定理，樣本均值的抽樣分布也近似為正態(tài)分布。檢驗統(tǒng)計量為，其中是樣本均值，是原假設(shè)中的總體均值，是總體標準差，是樣本量。在本題中，，，，所以檢驗統(tǒng)計量服從標準正態(tài)分布。 三、拒絕域與判斷 1.給定顯著性水平，對于右側(cè)檢驗，拒絕域在分布的右側(cè)。由于，查標準正態(tài)分布表可得，所以拒絕域為。 2.計算檢驗統(tǒng)計量的值并與拒絕域進行比較。如果檢驗統(tǒng)計量的值大于，則稱與的差異是顯著的，這時拒絕原假設(shè) H0，接受備擇假設(shè) H1。在本題中，樣本均值為 102 小時，代入檢驗統(tǒng)計量公式計算，若結(jié)果大于 1.645，則拒絕 H0，認為該類型的電子元件的使用壽命確實有顯著提高