2013注評(píng)考試《機(jī)電設(shè)備評(píng)估基礎(chǔ)》預(yù)習(xí)：裂紋的無(wú)損探傷法

第七章　設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷技術(shù)

　　知識(shí)點(diǎn)九、裂紋的無(wú)損探傷法

　　對(duì)設(shè)備零部件裂紋的檢查，主要采用無(wú)損探測(cè)法。

　　利用無(wú)損探測(cè)技術(shù)不僅能發(fā)現(xiàn)機(jī)件的裂紋，以及腐蝕、機(jī)械性能超差等變化，而且還可以根據(jù)機(jī)件損傷的種類、形狀、大小、產(chǎn)生部位、應(yīng)力水平、應(yīng)力方向等信息預(yù)測(cè)損傷或缺陷發(fā)展的趨勢(shì)，以便及時(shí)采取措施，排除隱患。

　　有多種無(wú)損探測(cè)法供選用，如目視——光學(xué)檢測(cè)法、滲透探測(cè)法、磁粉探測(cè)法、射線探測(cè)法、超聲波探測(cè)法、聲發(fā)射探測(cè)法、渦流探測(cè)法等。

　�。ㄒ唬┠恳�——光學(xué)檢測(cè)法

　　對(duì)于封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部不能直接觀察的零件，主要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行目視——光學(xué)檢測(cè)。

　�。ǘ�）滲透探測(cè)法

　　使著色滲透液或熒光滲透液滲入機(jī)件表面開(kāi)口的裂紋內(nèi)，然后清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內(nèi)的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗(yàn)方法。

　　（三）磁粉探測(cè)法

　　根據(jù)探測(cè)漏磁場(chǎng)方式的不同，可將磁性探測(cè)法分為磁粉探測(cè)法、探測(cè)線圈法、磁場(chǎng)測(cè)定法和磁帶記錄法。

　　磁粉探測(cè)法所用設(shè)備簡(jiǎn)單，操作方便，檢測(cè)靈敏度較高，適用于各種形狀的鋼鐵機(jī)件，這種探測(cè)法可以發(fā)現(xiàn)鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點(diǎn)是這種探測(cè)法不能探測(cè)缺陷的深度。

　�。ㄋ模┥渚�探測(cè)法：χ射線和γ射線。

　　主要用來(lái)探測(cè)機(jī)件內(nèi)部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當(dāng)裂紋方向與射線平行時(shí)也能被探測(cè)出來(lái)。

　　優(yōu)點(diǎn)是探測(cè)的圖像較直觀，對(duì)缺陷尺寸和性質(zhì)的判斷比較容易，而且探測(cè)結(jié)果可以記錄下來(lái)作為診斷檔案資料長(zhǎng)期保存。缺點(diǎn)是，當(dāng)裂紋面與射線近于垂直時(shí)就難以探測(cè)出來(lái)，對(duì)微小裂紋的探測(cè)靈敏度低，探測(cè)費(fèi)用較高，射線對(duì)人體有害。

　　（五）超聲波探測(cè)法。

　　可以探測(cè)垂直于超聲波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷。

　　優(yōu)點(diǎn)是可探測(cè)的厚度大、檢測(cè)靈敏度高、儀器輕便便于攜帶、成本低，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)，并且超聲波對(duì)人體無(wú)害。其缺點(diǎn)是探測(cè)時(shí)有一定的近場(chǎng)盲區(qū)、探測(cè)結(jié)果不能記錄、探測(cè)中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品等。

　�。�六）聲發(fā)射探測(cè)法。

　　基本原理是物體在外部條件（如力、熱、電、磁等）作用下會(huì)發(fā)聲，根據(jù)物體的發(fā)聲推斷物體的狀態(tài)或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化。 動(dòng)態(tài)檢測(cè)、在加載或運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行；裂紋主動(dòng)參與，提供裂紋活動(dòng)的信息；靈敏度高、覆蓋面大、不會(huì)漏檢；但是，不能反應(yīng)靜態(tài)缺陷情況。

　�。ㄆ撸�渦流探測(cè)法。

　　機(jī)件中存在損傷時(shí)，被監(jiān)測(cè)機(jī)件表面的渦流將發(fā)生改變，相應(yīng)的渦流磁場(chǎng)也將改變。

　　適用于導(dǎo)電材料表面或近表面探傷；靈敏度高，可自動(dòng)顯示報(bào)警；非接觸式，可用于高溫測(cè)量；可用于顯示、記錄和報(bào)警，并可估算缺陷的位置和大小。

　　不足：深層缺陷難以探測(cè)、影響因素多、存在邊角效應(yīng)。